IC Wafer平坦度量測設備

適用:​ SIC、氮化鎵、砷化鎵、藍寶石、GLASS、PI FILM...


 

Wafer Size: 4吋、6吋、8吋、12吋

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​適用尺寸:2~12吋

桌上型手動量測

​1.量測資料上拋至指定路徑

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適用Wafer尺寸:4~8吋

桌上型半自動

​檢測項目:THK、TTV、Bow 、Warp

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​​SC-WF300 Wafer Flatness Measurement

SATISFACTION GUARANTEED

量測項目:

​選配:SECS/GEN